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​最新消息
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2025年 上线导入自研 {内存颗粒 DC 测试机台},主要验证 DRAM 颗粒在静态条件下及动态存取之电气特性与接脚开短路状况。
测试项目有:VDD/VDDQ 电压电流量测Idd,电流消耗量测(如standby/leakage),接脚开短路检测(Open/Short Test),Pin leakage、input threshold 等..测试项目。

2025年

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2023导入 DYNA5 DIMM SLT全自动机器手臂式内存测试机台导入

(全自动DDR5内存模块测试机)

2023年

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DYNA5 SLT全自动IC测试机台导入(全自动DDR5 IC测试机)

2022年

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芯片测试量产

2020年

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芯片测试研发启动

2019年

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DYNA L4 SLT全自动IC测试机台导入 (全自动LPDDR4 IC测试机)

2018年

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DYNA L3 SLT全自动IC测试机台导入 (全自动PLDDR3 IC测试机)

2018年

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DYNA4 DIMM SLT全自动机器手臂式内存测试机台导入(全自动DDR4内存模块测试机)

2017年

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DYNA4 SLT全自动IC测试机台导入(全自动DDR4 IC测试机)

2015年

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DYNA 3 SLT全自动 DDR3 IC测试机台导入

2012年  

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导入CNC切割机自行设计模具制具相关测试产品

2011年  

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