自动化设备
VPT / 亿豪科技持续导入与升级最先进的设备与系统，以满足客户在制造与测试方面的高标准需求。公司拥有 顶级自动化测试机台与专业工程团队，致力于为客户提供 实时测试数据服务，客户可随时掌握自家产品的测试进度与性能状况。所有测试数据均由专人管理并严格保密，确保信息安全与客户权益。
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DYNA 5 / 4 / 3 SLT
随着市场对 DRAM IC 的应用不断扩展，从一般内存模块延伸至服务器、工业控制、AI 运算及车用电子等领域，IC 的工作频率持续提升，对其电气特性及品质一致性的要求也日趋严格。在此趋势下，精准掌握每颗 IC 的体质特征，成为确保产品性能与稳定性的关键。
DYNA 5 / 4 / 3 SLT 全自动 DRAM IC 测试机台 专为最新制程的 DRAM IC 而设计，可快速筛选出具备 更高频率与最低 1.0V 工作电压 的优质芯片。系统支持 参数自定义功能，客户可根据不同应用需求，灵活设定测试条件，精准选出最匹配的 DRAM IC。整个测试过程在 防尘、防静电环境 中进行，IC 由系统自动上机、分类并传送至指定测试区域。测试全程 自动化运行，大幅减少人工介入所造成的误差，确保测试数据的 准确性、一致性与可重复性。
通过 DYNA 系列测试平台，亿豪科技为客户提供高效率、高可靠度的 DRAM IC 测试解决方案，助力客户在产品性能、良率与生产效率上取得最佳平衡。
DYNA L4 / L3 SLT
随着 IC 制程技术的快速演进，测试的精确性与严谨度要求亦同步提升。为满足高性能、高质量内存模块的生产需求，VPT / 亿豪科技 的全球研发团队持续投入 先进 IC 测试技术的开发，并在此基础上推出新一代 DYNA L4 / L3 SLT 全自动 IC 测试机台。
该系统专为最新制程的 DRAM IC 设计，可精准测试芯片的 运行频率、CAS 延迟、工作电压容许度 等关键电气参数，这些数据是评估 DRAM IC 质量与性能等级的核心指标。
DYNA L4 / L3 SLT 测试过程在 防尘、防静电环境 下全自动进行，IC 自动上机、分拣并传送至指定测试区域，全程实现无人化测试作业，显著降低人工干预所造成的误差，确保测试结果的 准确性、稳定性与可重复性。
通过 DYNA L4 / L3 SLT 测试平台，VPT / 亿豪科技能为客户提供 高效率、高精度的 IC 筛选解决方案，以数据化验证确保每颗 DRAM IC 的电性表现达到最优标准，助力客户打造更高效能、更高良率的内存产品。
DYNA5 / 4 DIMM SLT
DYNA5/4 DIMM SLT 全自动机械手臂式内存测试机 采用最新一代智能机械手臂系统，实现自动化抓取与测试操作。此设计有效克服传统人工测试在 运作时间、人为误判及设备耗损 等方面的限制，可实现 24小时连续测试运作，大幅提升测试效率与产品一致性。
系统具备 自动不良分类与记录功能，可即时判定并隔离不良模块，同时将不良信息自动写入模块内存标签中，方便后续维修与追溯，显著缩短分析与维修时间。
DYNA5/4 DIMM SLT 以高智能机械臂系统结合全自动测试平台，实现测试流程的 精准化、稳定化与无人化，不仅提高测试产能，更有效降低人力与维护成本，是满足现代内存模块高效量产测试的最佳解决方案。